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  • Mesure de la topographie de logo apple

    Exigences de mesure

    Numériser la morphologie tridimensionnelle sur logo Apple de téléphone cellulaire, pour l'extrait de profile, à mesurer la différence entre les positions du segment

     

    Vue d'ensemble des caractéristiques principales

    1. Mesure sans contact, conception intégrée;

    2.Numériser la forme tridimensionnelle, traitement des données multi-fonctionnelles;

    3. Adapté pour la mesure précise d’une variété de matériaux;

    4. Utilisation simple, montage et démontage facile;

    5. Grande vitesse de numérisation, avec grande précision de positionnement;

    6. Garantie de précision de répétition de ± 0,5 à ± 1 μm;

    7.Grande stabilité, avec la grande capacité anti-interférence.

     

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    Résultats de mesure

    Différent positions avec différent segment, sensiblement entre 0 à 15 μm

     

    Résoudre les problèmes existant dans le dispositif de mesure de stade actuel

    1. Petite quantité d'usure, la détermination des difficultés;

    2. Certaines exigences sur les matériaux de mesure,mesure de contact, dégâts sur les matériels de mesure;

    3.Position incertaine d’usure avec la mesure lente, faible précision, et grande erreur de mesure;

    4. Structure complexe, coût élevé.

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